Визуализация клеточных структур и молекулярной активности при разрешении, недоступном для обычной световой микроскопии
Новая лицензированная UCSF технологии SIM, созданная на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti
Уникальные оптические технологии и методы производства
Система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы
Система N-SIM позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр
Почти в два раза более высокое разрешение по сравнению с обычными оптическими микроскопами
Благодаря использованию лицензированной UCSF технологии "микроскопии структурированного освещения" система микроскопии N-SIM от Nikon, оснащенная прославленым объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1,49), разработанным при помощи уникальных оптических технологий и методов, может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы.
Максимальная скорость среди аналогов – 0,6 с/кадр
Система N-SIM очень эффективна для получения изображений клеток в режиме реального времени с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр.
Метод получения изображений TIRF-SIM
Новая методика освещения TIRF-SIM позволяет проводить наблюдения по методу флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF) с более высоким разрешением, чем обычные микроскопы TIRF, и получать более детальную информацию о зонах вблизи клеточных мембран.
Методика 3D-SIM
Новая методика освещения 3D-SIM позволяет делать оптические срезы образцов, за счет чего возможна визуализация более сложных клеточных структур при более высоком пространственном разрешении до 20 мкм
| Сверхвысокое разрешение | Боковое (XY) ~85 – 110 нм (в зависимости от длины волны и оптики) |
| Осевое (Z) ~200 – 250 нм (в зависимости от длины волны и оптики) | |
| Диапазон сдвига вдоль оси при трехмерной съемке до 20 мкм | |
| Скорость | TIRF и 2D SIM = 0,6 с/кадр |
| 3D SIM = 1,0 с/кадр | |
| Микроскоп | Ti-E с системой Perfect Focus и осветителем SIM |
| Корпус микроскопа SIM | |
| Объективы | Apo TIRF 100X 1,49 (МИ) |
| Plan Apo λS IR 60X 1,27 (водная иммерсия) | |
| Имеющиеся в наличии лазеры, AOTF-модулируемые | 457 нм (100 мВт) |
| 488 нм (200 мВт) | |
| 515 нм (50 мВт) | |
| 532 нм (100 мВт) | |
| 561 нм (100 мВт) | |
| Фотокамера | Камера EM-CCD iXon DU897 (Andor) |
| Антивибрационный оптический стол | Необходим |
| Рабочая температура | 25°C ± 0.5°C |
| Рабочая влажность | 40-50% ± 3% |
Рекомендуемые товары