ЛАБОРАТОРНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ И ПРИБОРЫ Контакты:
Адрес: Электролитный проезд 3б Строение 6 115230 Москва,
Телефон:+7 (495) 118-30-34, Факс:+7 (495) 118-30-34, Электронная почта: info@gk-npk.ru

Система микроскопии сверхвысокого разрешения N-SIM Super-Resolution Nikon

Система микроскопии сверхвысокого разрешения N-SIM Super-Resolution Nikon

Цена: по запросу

Нет в наличии

Производитель: Nikon



Визуализация клеточных структур и молекулярной активности при разрешении, недоступном для обычной световой микроскопии

Новая лицензированная UCSF технологии SIM, созданная на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti
Уникальные оптические технологии и методы производства
Система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы
Система N-SIM позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр

Почти в два раза более высокое разрешение по сравнению с обычными оптическими микроскопами

Благодаря использованию лицензированной UCSF технологии "микроскопии структурированного освещения" система микроскопии N-SIM от Nikon, оснащенная прославленым объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1,49), разработанным при помощи уникальных оптических технологий и методов, может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы.

Максимальная скорость среди аналогов – 0,6 с/кадр

Система N-SIM очень эффективна для получения изображений клеток в режиме реального времени с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр.

Метод получения изображений TIRF-SIM

Новая методика освещения TIRF-SIM позволяет проводить наблюдения по методу флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF) с более высоким разрешением, чем обычные микроскопы TIRF, и получать более детальную информацию о зонах вблизи клеточных мембран. 

Методика 3D-SIM

Новая методика освещения 3D-SIM позволяет делать оптические срезы образцов, за счет чего возможна визуализация более сложных клеточных структур при более высоком пространственном разрешении до 20 мкм

Сверхвысокое разрешение Боковое (XY) ~85 – 110 нм (в зависимости от длины волны и оптики)
Осевое (Z) ~200 – 250 нм (в зависимости от длины волны и оптики)
Диапазон сдвига вдоль оси при трехмерной съемке до 20 мкм
Скорость TIRF и 2D SIM = 0,6 с/кадр
3D SIM = 1,0 с/кадр
Микроскоп Ti-E с системой Perfect Focus и осветителем SIM
Корпус микроскопа SIM
Объективы Apo TIRF 100X 1,49 (МИ)
Plan Apo λS IR 60X 1,27 (водная иммерсия)
Имеющиеся в наличии лазеры, AOTF-модулируемые 457 нм (100 мВт)
488 нм (200 мВт)
515 нм (50 мВт)
532 нм (100 мВт)
561 нм (100 мВт)
Фотокамера Камера EM-CCD iXon DU897 (Andor)
Антивибрационный оптический стол Необходим
Рабочая температура 25°C ± 0.5°C
Рабочая влажность 40-50% ± 3%